ブース番号 | 1-367 |
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出展製品 |
J-SEMS 官能評価システム新製品・新技術
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見どころ | 弊社の官能評価システム(J-SEMS)は様々な測定手法を用いて製品の官能特性を測定することができ、統計解析も同時に行うことができます。複数のパネリストのデータを同時に効率的に測定することができ、情報の漏洩にも配慮した使い勝手のよいシステムです。J-SEMSを用いた官能評価実験を行いますので、このシステムのすばらしさを体験していただきたいと思います。 |
URL | https://www.j-sems.com |
日付 | 10月2日(水) 16:00-16:20 | 会場 | D会場 |
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タイトル | 官能評価を効率化~データ収集・解析の自動化法 | ||
詳細 | 官能評価には、順位法、採点法、SD法、QDA法、TDS法、TI法など,様々な測定手法がありますが、弊社のJSEMSはそれらの官能評価手法を用いて製品の官能特性を効率的に測定できるように設計されたシステムです。 |